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반도체재료 열물성

Polysilicon Emissivity 300[09-02-00011]
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Polysilicon Emissivity 300[09-02-00011]

참조표준명 Polysilicon Emissivity 300[09-02-00011]
참조표준 번호 KSRD.03.2009.001.006
참조표준 등급 유효 참조표준
재료규격 시료형상 : disk
구조 : Polycrystal
밀도 : 2.33g/cm3
성분분석 : 만족
불순물 : 0.99999
측정방법 측정파장영역 : 3.5~14μm
실험방법 : FT-IR spectrometer
재현성 시료가공방법 : 제조사 (Alfa aesar) 제공
시료제조법 : 제조사 (Alfa aesar) 제공
실험절차 : FT-IR을 이용한 수직 분광 복사율 측정절차에 따름(well described)
시험조건 : 대기압, 23℃±2℃
측정불확도 1.8%(상대합성불확도)

Polysilicon Emissivity 300[09-02-00011] 참조표준

Wavelength Emissivity
3.5 0.44
3.6 0.44
3.6 0.47
3.7 0.45
3.8 0.46
3.9 0.46
3.9 0.47
4 0.48
4 0.49
4.1 0.49
4.1 0.5
4.2 0.5
4.3 0.5
4.4 0.51
4.4 0.52
4.5 0.52
4.6 0.52
4.7 0.52
4.7 0.53
4.8 0.53
4.8 0.54
4.9 0.54
5 0.54
5 0.54
5.1 0.55
5.1 0.56
5.2 0.56
5.3 0.57
5.3 0.57
5.4 0.57
5.5 0.58
5.5 0.59
5.6 0.6
5.7 0.61
5.7 0.64
5.8 0.63
5.8 0.62
5.9 0.65
6 0.64
6 0.63
6.1 0.64
6.2 0.64
6.3 0.64
6.3 0.66
6.4 0.68
6.5 0.68
6.5 0.7
6.6 0.71
6.6 0.7
6.7 0.68
6.7 0.67
6.8 0.69
6.8 0.7
6.9 0.71
6.9 0.72
7 0.73
7.1 0.72
7.2 0.71
7.3 0.71
7.4 0.71
7.5 0.71
7.6 0.71
7.7 0.72
7.8 0.73
7.8 0.72
7.9 0.73
7.9 0.72
8 0.71
8 0.72
8.1 0.71
Wavelength Emissivity
8.2 0.71
8.3 0.71
8.4 0.71
8.5 0.72
8.6 0.72
8.6 0.73
8.7 0.73
8.8 0.73
8.8 0.74
8.9 0.74
9 0.75
9.1 0.76
9.2 0.76
9.2 0.76
9.3 0.75
9.4 0.75
9.4 0.74
9.5 0.74
9.5 0.73
9.6 0.73
9.7 0.72
9.7 0.72
9.8 0.72
9.9 0.73
10 0.73
10.1 0.74
10.2 0.74
10.3 0.75
10.4 0.75
10.5 0.75
10.6 0.75
10.7 0.75
10.7 0.75
10.8 0.75
10.9 0.75
10.9 0.76
11 0.76
11.1 0.76
11.2 0.76
11.3 0.76
11.4 0.76
11.5 0.76
11.6 0.76
11.7 0.76
11.8 0.76
11.9 0.76
12 0.76
12 0.75
12.1 0.76
12.2 0.76
12.3 0.76
12.4 0.76
12.5 0.76
12.6 0.76
12.7 0.76
12.7 0.76
12.8 0.76
12.9 0.76
13 0.76
13.1 0.76
13.2 0.76
13.3 0.77
13.4 0.77
13.5 0.77
13.6 0.77
13.7 0.77
13.8 0.77
13.9 0.76
13.9 0.77
14 0.77
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