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반도체재료 열물성

Polysilicon Emissivity 250[09-02-00010]

Polysilicon Emissivity 250[09-02-00010]

참조표준명 Polysilicon Emissivity 250[09-02-00010]
참조표준 번호 KSRD.03.2009.003.001.003
DOI 10.20925/KSRD.03.2009.003.001.003
참조표준 등급 유효 참조표준
재료규격 시료형상 : disk
구조 : Polycrystal
밀도 : 2.33g/cm3
성분분석 : 만족
불순물 : 0.99999
측정방법 측정파장영역 : 3.5~14μm
실험방법 : FT-IR spectrometer
재현성 시료가공방법 : 제조사 (Alfa aesar) 제공
시료제조법 : 제조사 (Alfa aesar) 제공
실험절차 : FT-IR을 이용한 수직 분광 복사율 측정절차에 따름(well described)
시험조건 : 대기압, 23℃±2℃
측정불확도 1.8%(상대합성불확도)

Polysilicon Emissivity 250[09-02-00010] 참조표준

Wavelength Emissivity
3.6010 0.4658
3.8002 0.4683
4.0011 0.4770
4.2004 0.4835
4.4000 0.4880
4.6011 0.4877
4.8013 0.4963
5.0004 0.4974
5.2010 0.5122
5.4014 0.5233
5.6028 0.5431
5.8002 0.5581
6.0016 0.5679
6.2026 0.5830
6.4017 0.6037
6.6014 0.6244
6.8005 0.6536
7.0025 0.7042
7.2019 0.6899
7.4024 0.6840
7.6032 0.6889
7.8034 0.6951
Wavelength Emissivity
8.0021 0.6848
8.2047 0.6790
8.4042 0.6847
8.6065 0.7014
8.8037 0.7140
9.0024 0.7337
9.2021 0.7429
9.4023 0.7236
9.6026 0.6973
9.8022 0.6919
10.0007 0.7028
10.2075 0.7180
10.4020 0.7284
10.6041 0.7307
10.8029 0.7317
11.0093 0.7388
11.4975 0.7452
12.0032 0.7369
12.5100 0.7413
13.0123 0.7479
13.5036 0.7533
14.0146 0.7422
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